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  • GDWT-480型全自動(dòng)型高低溫真空探針臺(tái)
    GDWT-480型全自動(dòng)型高低溫真空探針臺(tái)

    GDWT-480型全自動(dòng)型高低溫真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于I-V/C-V,PIV測(cè)試,傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路以及封裝的測(cè)試。 產(chǎn)品供應(yīng)北京、上海、杭州等全國(guó)各地。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電子樣品測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本,可以配合Keithley,Tektronix等國(guó)內(nèi)外各種源表對(duì)材料進(jìn)行測(cè)試,可以做材料的介電,鐵電等測(cè)試,是目前高等院校和研究所及材料生產(chǎn)單位的重要輔助設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-12-01型號(hào):GDWT-480型瀏覽量:2954
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  • PMMA-300型芯片壓印真空鍵合機(jī)
    PMMA-300型芯片壓印真空鍵合機(jī)

    在微流控領(lǐng)域,常用的芯片材質(zhì)有PDMS、玻璃、PMMA、PC、COC、COP塑料等。每種材質(zhì)均有不同的性能特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì),其中PDMS和玻璃材質(zhì)均可以通過MEMS工藝加工幾微米線寬及以上尺寸的結(jié)構(gòu)且成本較低。而塑料材質(zhì),若是采用數(shù)控CNC加工,一般設(shè)備只能加工線寬100um以上的結(jié)構(gòu),若是想要加工100um以內(nèi)的結(jié)構(gòu),需要開模注塑,其成本較高,尤其對(duì)于芯片結(jié)構(gòu)沒有定型的客戶。

    更新時(shí)間:2026-02-26型號(hào):瀏覽量:14
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  • B2912A-16T型多通道通道高低溫電阻測(cè)試系統(tǒng)
    B2912A-16T型多通道通道高低溫電阻測(cè)試系統(tǒng)

    B2912A-16T型多通道高低溫電阻I/V(電流 vs 電壓)測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)特殊樣品多路電極測(cè)試的系統(tǒng),解決了同一個(gè)樣品面對(duì)點(diǎn)I/V(電流 vs 電壓),配備了高低溫樣品測(cè)試臺(tái),16通道并行I-V掃描自動(dòng)切換通道,無需人工干預(yù),使測(cè)試變得更加方便,快捷。在新材料,復(fù)雜材料測(cè)試和研究重要設(shè)備.

    更新時(shí)間:2025-12-02型號(hào):瀏覽量:290
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  • JKZC-GSTS08型氣體傳感器陣測(cè)試系統(tǒng)
    JKZC-GSTS08型氣體傳感器陣測(cè)試系統(tǒng)

    JKZC-GSTS08氣體傳感器陣測(cè)試系統(tǒng)主要完成氣體敏感材料及氣敏傳感器器件的性能檢測(cè)和評(píng)價(jià),適用氣體范圍包括常溫是氣態(tài)的氣體和部分揮發(fā)性液體,如乙醇、苯等,濕敏作為氣敏的一個(gè)分支,此系統(tǒng)可完成水的絕對(duì)含量和相對(duì)濕度(%RH)的敏感性評(píng)價(jià)。

    更新時(shí)間:2025-12-02型號(hào):瀏覽量:341
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  • JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測(cè)試儀
    JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測(cè)試儀

    JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測(cè)試儀為用于金屬材料的電阻可視化檢測(cè)設(shè)計(jì),由于銀、銅、金、鋁等具有較好導(dǎo)電性,這些金屬材料在日常使用體積范圍時(shí)其電阻值就已經(jīng)很低,通過下圖可對(duì)其有簡(jiǎn)單概念,當(dāng)金屬材料為長(zhǎng)度10cm絲材時(shí),1mΩ材料電阻值對(duì)應(yīng)的材料截面積(圖中數(shù)值為直徑,單位mm)

    更新時(shí)間:2025-12-02型號(hào):瀏覽量:273
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  • HEM-200 高低溫霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)
    HEM-200 高低溫霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)

    系統(tǒng)組成:HEM-200 高低溫霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)本儀器系統(tǒng)由電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源、高精度電壓表、矩陣卡、霍爾效應(yīng)樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)樣品、系統(tǒng)軟件組成。本套系統(tǒng)測(cè)試應(yīng)用的是最新的KEITHLEY 進(jìn)口測(cè)試源表,配合配套的低延遲寬帶寬的矩陣卡,極大提高了樣品的供電電流和測(cè)試樣品的霍爾電壓的量程和精度,寬電流供電和寬電壓測(cè)試范圍可以覆蓋市面上絕大多數(shù)的半導(dǎo)體器件。用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的載流子濃度、

    更新時(shí)間:2025-12-02型號(hào):瀏覽量:533
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