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JK-CGLS190型常規(guī)原位拉伸冷熱臺(tái)是一款研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。

JK-SEM1900型原位冷熱臺(tái)是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)上（無需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱臺(tái)上的樣品進(jìn)行控溫，穩(wěn)定后溫控精度最高可達(dá)±0.1℃ 可實(shí)現(xiàn)樣品變溫測試的溫度范圍：-185~50℃ / -185~200℃，滿足原位高低溫材料相變微觀表征。SEM原位冷熱臺(tái)適合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進(jìn)行高低溫結(jié)構(gòu)研究，固定在現(xiàn)有樣品臺(tái)上

JK-600CH190P4D型外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)

JK-600GCH2190P4微型探針冷熱臺(tái)產(chǎn)品特點(diǎn)： 結(jié)構(gòu)緊湊，適用于各種變溫測試 最大溫度范圍-190~600℃（選型) 氣密腔室設(shè)計(jì)，可通保護(hù)氣體 多探針測試 上位機(jī)軟件控制 支持改動(dòng)或定制

JK-600CH190P8型常規(guī)探針冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他電學(xué)儀表（如源表、萬用表等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測試。

光學(xué)冷熱臺(tái)JK-GH600-190是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。 產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測試。