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HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設(shè)備，可以出具CNAS整體認證的專業(yè)材料高溫測量設(shè)備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設(shè)計的懸浮式電路，

HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評估和測試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設(shè)計開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導(dǎo)體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導(dǎo)體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導(dǎo)體GaAsA

GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量，并參考美國A.S.T.M 標準,采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。高低溫介電溫譜測量系統(tǒng)(-190℃-1000℃）電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全。

四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量，并參考美國 A.S.T.M 標準。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。

TDNX-1200型金屬高溫電阻測量儀是一款專門針對于任意大小形狀及尺寸的金屬材料電阻測試高溫系統(tǒng)，常見的不銹鋼、鍍鋅鋼、銅合金、鎳合金等金屬材料均可測試。設(shè)備采用高精度的儀表，電阻精度量精確到 1uΩ，配備高精度標準電阻，數(shù)據(jù)溯源美國國家標準與技術(shù)研究院數(shù)據(jù)。是目前研究金屬材料高溫電阻變化的重要設(shè)備。 一、主要功能：

JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng)是將焦耳熱閃蒸技術(shù)與冷熱臺相結(jié)合的極寬溫域、超快速度材料合成和調(diào)控系統(tǒng)，可有效調(diào)控合成材料的微觀形貌和結(jié)構(gòu)。我們提供常溫的焦耳熱閃蒸系統(tǒng)，同時提供變溫下的焦耳熱閃蒸系統(tǒng)，方便了科研和教學(xué)工作。 二、產(chǎn)品主要用途：JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng)能夠提供大電壓、大電流、高溫和高能量輸出、高的升溫速率和冷卻速率、過冷度等，可在條件下超快合成和調(diào)控納米材料。